X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。
 

　　X射線衍射儀(XRD)是通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。
 

　　X射線衍射儀使用注意事項：
 

　　(1)固體樣品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必須平整，可以用幾塊粘貼一起。
 

　　(2)對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向，衍射強度異常，需提供測試方向。
 

　　(3)對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變)，測量殘余奧氏體，要求制備成金相樣品，并進行普通拋光或電解拋光，消除表面應變層。
 

　　(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米，重量大于5g。
 

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